Spectromètre micro-XRF pour les reliques culturelles et l'analyse de micro-échantillons
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Spectromètre micro-XRF pour les reliques culturelles et l'analyse de micro-échantillons

Prix
MOQ
$45999
10 Pieces
Détails du produit
Résolution spatiale:
≤ 5μm
Gamme d'élément de détection:
Éléments complets Na-U
Volume minimal d'échantillon:
Diamètre du × 10μm d'épaisseur de 1μm
Expédition & Politique
Shipping & Delivery Info:
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Description du produit
Informations de l'entreprise

Informations de base

Ce spectromètre de fluorescence de micro-rayons X est conçu pour les microéchantillons et les scénarios d'analyse de distribution d'éléments de haute précision, ciblant les institutions de protection des reliques culturelles, les instituts de recherche archéologique, champs de fabrication de semi-conducteurs et d'analyse de micro-matériaux. Il peut réaliser la détection non destructive des échantillons de micro-échelle, analysant avec précision les composants de l'élément et la distribution de minuscules reliques culturelles, dispositifs micro-électroniques et autres micro-échantillons, fournir un soutien technique important pour la restauration des reliques culturelles et la recherche sur les micro-matériaux.

Attributs clés

Résolution spatiale
≤ 5μm
Gamme d'élément de détection
Éléments complets Na-U
Volume minimal d'échantillon
Diamètre du × 10μm d'épaisseur de 1μm
Type de détecteur
Détecteur refroidi de dérive de silicium
Résolution spectrale
≤ 130eV à Mn Kα
Grossissement optique
Jusqu'à 1000 ×
Gamme de mouvement d'étape d'échantillon
X: 100mm, Y:100mm, Z:50mm
Logiciel d'analyse de données
Logiciel de cartographie de la distribution des éléments 3D
Plage de température de fonctionnement
18 ℃ - 25 ℃
Exigence d'humidité
30% - 60% HR sans condensation
Alimentation électrique
AC 220V 50Hz
Résolution spatiale
≤ 5μm
Gamme d'élément de détection
Éléments complets Na-U
Volume minimal d'échantillon
Diamètre du × 10μm d'épaisseur de 1μm
Type de détecteur
Détecteur refroidi de dérive de silicium
Résolution spectrale
≤ 130eV à Mn Kα
Grossissement optique
Jusqu'à 1000 ×
Gamme de mouvement d'étape d'échantillon
X: 100mm, Y:100mm, Z:50mm
Logiciel d'analyse de données
Logiciel de cartographie de la distribution des éléments 3D
Plage de température de fonctionnement
18 ℃ - 25 ℃
Exigence d'humidité
30% - 60% HR sans condensation
Alimentation électrique
AC 220V 50Hz

Avis clients

David Miller · Scientifique en conservation
Le spectromètre à fluorescence X micro-focus pour le patrimoine culturel et l'analyse de micro-échantillon a dépassé nos attentes. Sa taille de tache de 50μm permet l'analyse non envahissante des artefacts précieux avec le détail sans précédent. La fonction de cartographie élémentaire révèle des couches cachées et un historique de restauration invisibles à l'œil nu. L'option de chambre à vide offre une excellente sensibilité pour les éléments légers. Cet instrument est devenu un élément central de notre travail d'authentification et de conservation.

Description du produit

Caractéristiques du produit:

L'avantage central de ce spectromètre micro-XRF est sa résolution spatiale ultra-haute, qui peut obtenir une analyse par élément d'échantillons avec une taille minimale de 1 μm d'épaisseur × 10 μm de diamètre. Il adopte un détecteur de dérive en silicium refroidi, assurant une résolution spectrale élevée et un faible bruit de fond, améliorant la sensibilité de détection des oligo-éléments. Le microscope optique construit avec jusqu'à 1000 × grossissement permet aux utilisateurs de localiser rapidement la zone de détection, améliorant ainsi la précision de la détection des échantillons. Le logiciel de cartographie de distribution d'éléments 3D peut afficher visuellement la distribution des éléments de l'échantillon, aidant les utilisateurs à analyser en profondeur la microstructure et la distribution des composants de l'échantillon. Comparé à l'équipement XRF traditionnel, il a un stade d'échantillon de haute précision, qui peut obtenir un mouvement précis de l'échantillon dans trois directions, répondant aux besoins de détection multipoint et de balayage de zone.

https://globalsyt.oss-accelerate.aliyuncs.com/materials/184/0/20260306113330_69aa4b0a74ecf.webp

Spécifications du produit:

Les dimensions globales de l'instrument sont 1200mm × 800mm × 1500mm, avec un poids total de 800kg. Il est équipé d'un étage d'échantillonnage motorisé de haute précision, avec une plage de mouvement de X:100mm, Y:100mm et Z:50mm, et la précision de positionnement est ≤ 1μm. La tension d'excitation est réglable de 0-50kV, et le courant d'excitation est réglable de 0-100μA. La résolution spatiale est ≤ 5 μm et la résolution spectrale est ≤ 130eV à Mn Kα, couvrant tous les éléments du sodium à l'uranium. Le logiciel de cartographie de distribution d'éléments 3D peut générer des images de distribution d'éléments 2D et 3D et prendre en charge l'exportation de données dans plusieurs formats.

https://globalsyt.oss-accelerate.aliyuncs.com/materials/184/0/20260306113340_69aa4b14e67a2.webp

Application du produit:

Ce spectromètre micro-XRF est principalement applicable à la protection des reliques culturelles et à la recherche archéologique, comme l'analyse non destructive des céramiques anciennes, des articles en bronze, de la calligraphie et des pigments de peinture, fournir une base scientifique pour la restauration des reliques culturelles et l'identification de l'âge. Il convient également à l'analyse des micro-matériaux dans l'industrie des semi-conducteurs, tels que la détection de la distribution des éléments des micropuces, des joints de soudure et d'autres micro-composants, et l'analyse de la qualité des appareils micro-électroniques. En outre, il peut être utilisé pour l'analyse des traces de preuves médico-légales, telles que la détection des composants des traces de peinture, de fibres et d'autres preuves, fournissant un soutien scientifique pour une enquête criminelle.

FAQ

Q:Qu'est-ce qui rend les spectromètres XRF à micro-focus adaptés à l'analyse du patrimoine culturel?
A:Micro-XRF (taille de tache de 10-50μm) permet l'analyse non envahissante des pigments/encres dans des illustrations. Avec des détecteurs de dérive de silicium (SDD), il détecte les oligo-éléments (<100ppm) dans les céramiques/parchems, cartographiant les distributions élémentaires pour les études d'authentification et de conservation.

Profil de l'entreprise

Type d'entreprise:
Manufacturer
Produits principaux:
Spectromètre à fluorescence X,Appareil de contrôle de RoHS,Analyseur de métaux précieux,Analyseur ICP
Année de création:
2020
Nombre d'employés:
5-10 People
Adresse:
No. 02, Building 12, Phase I, Digital Economy Industrial Park, Yuanchuang Zhigu, Baiyangwan Street, Gusu District, Suzhou City, Jiangsu Province, Suzhou, Jiangsu, China
Temps de réponse moyen:
14 Jours

Informations générales

Type d'entreprise:
Manufacturer
Produits principaux:
Spectromètre à fluorescence X,Appareil de contrôle de RoHS,Analyseur de métaux précieux,Analyseur ICP
Année de création:
2020
Nombre d'employés:
5-10 People
Certification du système de management:
HACCP,TL900,QS9000,SA8000,ISO9001,ISO9004,ISO17799,ISO9000,ISO14000,ISO10441,ISO16949,TS16969,ISO19011:2000,OHSAS18001,Others
Adresse:
No. 02, Building 12, Phase I, Digital Economy Industrial Park, Yuanchuang Zhigu, Baiyangwan Street, Gusu District, Suzhou City, Jiangsu Province, Suzhou, Jiangsu, China

Capacité commerciale

Marchés principaux:
北美,南美洲,东欧,东南亚,非洲,大洋洲,中东,东亚,西欧,中美洲,北欧,南欧,南亚,国内市场
Ports d'expédition:
Volume d'exportation:
US$1.5 Million-US$2.5 Million
Délai de livraison moyen:
14 Days
Conditions de paiement:
T/T L/C MoneyGram PayPal D/P Western Union Others
Mode de coopération:
OEM ODM
Personnalisation prise en charge:
No
Nombre de commerciales en commerce international:
5-10 People
Agent à l'étranger / Filiale à l'étranger:
No

Présentation de l'entreprise

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M. Li Xiaofu
General Manager / board of directors
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