Mètre de déplacement nanométrique capacitif

Caractéristiques du produit :

Ce mètre de déplacement capacitif présente plusieurs avantages clés dans les scénarios de mesure micro-nano. Premièrement, il offre une précision de mesure extrêmement élevée, jusqu'à ±0,001 μm, ce qui répond aux exigences de détection du déplacement au niveau nanométrique. Deuxièmement, il utilise la technologie de détection capacitive sans contact, qui n'endommage ni n'use la surface mesurée. Troisièmement, il possède une bonne performance anti-interférences électromagnétiques, ce qui permet de maintenir une mesure stable dans des ateliers en environnement à forte interférence électromagnétique. Quatrièmement, il prend en charge la fonction d'étalonnage automatique, qui permet de réduire les erreurs de manipulation manuelle et d'améliorer la stabilité de la mesure. Il résout les points douloureux des capteurs de déplacement traditionnels, tels que la faible précision, la faible capacité anti-interférences et la difficulté de détection des micro-déplacements, et fournit une solution fiable pour la mesure de déplacement à très haute précision.

Spécifications du produit :

Les paramètres techniques spécifiques de ce mètre de déplacement nanométrique capacitif sont les suivants : Plage de mesure : 0,01 μm à 10 mm ; Précision de mesure : ±0,001 μm à l'échelle complète ; Résolution : 0,0001 μm ; Signal de sortie : tension analogique 0-10 V ou signal courant 4-20 mA ; Diamètre de la sonde : 8 mm ; Matériau du boîtier : matériau isolant POM pour éviter les interférences électromagnétiques ; Alimentation : 5 V courant continu ±5 % ; Degré de protection : IP54, adapté aux environnements d'ateliers généraux ; Température de fonctionnement : 0 °C à 50 °C ; Humidité relative : 30 % à 70 % HR sans condensation ; Période d'étalonnage : 12 mois ; Dimensions globales : 120 mm * 60 mm * 30 mm.

Applications du produit :

Ce mètre de déplacement nanométrique capacitif est adapté à plusieurs scénarios industriels à haute précision. Dans l'industrie de la fabrication de semi-conducteurs, il peut être utilisé pour l'étalonnage de précision des équipements de traitement de wafers et la détection d'alignement du emballage de puces ; dans l'industrie des machines-outils de précision, il peut être utilisé pour la détection de positionnement des machines-outils à commande numérique et la surveillance de l'usure des outils ; dans le domaine biomédical, il peut être utilisé pour la détection de micro-déplacement des échantillons biologiques et le contrôle de précision des équipements médicaux ; dans l'industrie de la fabrication optique, il peut être utilisé pour la détection de la planarité des lentilles optiques et le positionnement du montage des lentilles. Il peut fournir des données de déplacement à très haute précision pour les industries manufacturières de pointe afin d'aider les entreprises à améliorer la qualité et la précision de la production de leurs produits.