Les points forts de ce produit résident dans sa résolution ultra-élevée et ses capacités d'imagerie multimode. Il utilise un système optique corrigé à l'infini, réduisant efficacement l'aberration sphérique et l'aberration chromatique des objectifs traditionnels, atteignant une résolution d'imagerie ultra-élevée de 0,1 μm et permettant d'observer clairement les grains métalliques à l'échelle nanométrique et les défauts de plaquettes semi-conductrices. Il est équipé d'une tête d'observation inclinable trinoculaire, permettant l'observation simultanée par deux personnes et la capture d'images par ordinateur. Il est doté d'une source de lumière transmise halogène 12V 100W et d'une source de lumière réfléchie à éclairage épifocal à fibre optique, permettant un basculement flexible entre les modes d'imagerie en lumière transmise et réfléchie pour s'adapter aux échantillons métallographiques transparents et opaques. Le logiciel associé Image-Pro Premier prend en charge l'analyse d'images avancée, la reconstruction 3D, la statistique des grains et l'analyse quantitative, répondant aux besoins de traitement de données de niveau recherche scientifique. Le corps adopte une conception de plateforme optique anti-choc, aidant à minimiser l'impact des vibrations externes sur la qualité d'imagerie, et est accompagné d'une garantie complète de 3 ans sur l'ensemble de l'appareil et de services gratuits d'installation et de mise au point sur site.
Les paramètres techniques détaillés incluent une plage de grossissement de 50x à 2000x, avec des groupes d'objectifs plans apochromatiques corrigés à l'infini de 50x/100x/200x/500x, associés à des oculaires à point de vue élevé de 10x/16x. La tête d'observation inclinable trinoculaire possède une plage de réglage de la distance pupillaire de 55 à 75 mm et une fonction de rotation de 0 à 360°. La platine mécanique mesure 240×200 mm, avec des molettes de réglage grossier et fin des axes X et Y, prenant en charge une épaisseur maximale d'échantillon de 50 mm. La résolution d'imagerie atteint 0,1 μm, utilisant un système de double source lumineuse : lumière transmise halogène 12V 100W et lumière réfléchie à éclairage épifocal à fibre optique. Les dimensions globales sont de 580×450×650 mm, avec un poids net de 28 kg, prenant en charge une alimentation secteur alternatif large gamme de 110/220V. Il est équipé d'une interface USB 3.0 pour la transmission de données à grande vitesse, compatible avec les caméras d'imagerie de gamme recherche scientifique courantes, et est accompagné d'une garantie complète de 3 ans sur l'ensemble de l'appareil et d'un service gratuit de remplacement des consommables pendant 1 an.
Il s'applique à la recherche sur les matériaux métalliques de pointe dans les instituts de recherche en science des matériaux des universités, à la détection des défauts de plaquettes dans la fabrication de puces semi-conductrices, à l'analyse des microstructures des alliages à haute température dans le domaine aérospatial, à la détection de la microtopographie des tranchants dans la fabrication d'outils de précision, et à l'analyse de la structure des électrodes des batteries de véhicules à énergie nouvelle. Les scénarios spécifiques incluent la recherche sur le mécanisme de croissance des grains des nouveaux alliages à haute entropie par des équipes de recherche, la détection des défauts de câblage métallique sur la surface des plaquettes dans les usines semi-conductrices, l'analyse de la structure de la couche d'oxyde à haute température des pales de turbine dans les entreprises aéronautiques, et la détection de l'usure microscopique des tranchants dans les usines d'outils de précision, permettant à les chercheurs et les entreprises de fabrication haut de gamme de réaliser des analyses de microstructures à haute précision et un contrôle qualité.
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