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Les avantages clés de ce microscope Raman laser haute résolution incluent son système laser à double longueur d'onde (532 nm et 785 nm) qui s'adapte à différents types d'échantillons, sa haute résolution spectrale de 0,5 cm⁻¹ et sa sensibilité de détection ultra-élevée de 10⁻¹⁸ mol, permettant la détection de composants en trace dans de petites zones d'échantillon. Le plateau d'échantillon motorisé électrique prend en charge le balayage automatique ponctuel, linéaire et surfacique, permettant l'acquisition rapide de données spectrales et d'imagerie pour de grandes zones d'échantillon. Le logiciel d'analyse spectrale Raman dédié peut automatiquement identifier les composants des échantillons en les comparant aux bases de données de matériaux intégrées, et générer des images de distribution des composants, fournissant des résultats d'analyse intuitifs et précis.
Ce microscope Raman laser haute résolution est équipé de deux lasers d'excitation (532 nm et 785 nm) avec une résolution spectrale de 0,5 cm⁻¹ et une sensibilité de détection de 10⁻¹⁸ mol. Il dispose d'une plage de grossissement de 20x à 1000x, et d'un plateau d'échantillon motorisé XY avec une zone d'imagerie de 50mm x 50mm. Il prend en charge trois modes d'imagerie : balayage ponctuel, balayage linéaire et balayage surfacique, et est compatible avec les échantillons solides, liquides, en poudre et biologiques. La plate-forme d'amortissement passif isole efficacement les vibrations externes, garantissant des données spectrales et d'imagerie stables et précises. L'appareil est alimenté par courant alternatif 110/220V, avec des dimensions globales de 1000mm (W) x 800mm (D) x 600mm (H), et prend en charge l'exportation de données dans plusieurs formats pour une analyse ultérieure.
Ce microscope Raman laser haute résolution est largement utilisé dans l'identification des composants pharmaceutiques, l'analyse de traces judiciaires, la détection des additifs alimentaires, l'analyse de la microstructure des matériaux carbone, la détection des composants des matériaux semi-conducteurs et l'identification de l'authenticité des bijoux. Il aide les chercheurs et les inspecteurs à obtenir des informations précises sur les composants des petites zones d'échantillon, résolvant le problème des méthodes de détection traditionnelles qui ne permettent pas d'effectuer une analyse des composants à l'échelle microscopique.